產(chǎn)品介紹：、、詹HPA美國惠普精密LCR測試儀 美國惠普HPa精密LCR測試儀是用于元件和材料測量的價廉物美的儀器.它們通過提供精確、高吞吐量的測試方法來改變元件的質(zhì)量.hz到mhz寬的測頻范圍和優(yōu)良的測試信號,使HP a的測試元件時符合最通行的測試標(biāo)準(zhǔn)如iec/mil標(biāo)準(zhǔn)(國際電工委員會或美國軍用標(biāo)準(zhǔn)),且工作在模擬所使用的工作條件下.無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗,HP a能滿足全部lcr測量要求. 技術(shù)指標(biāo) (全面的技術(shù)指標(biāo)請參閱技術(shù)資料) 被測參數(shù)z|-θ,|y|-θ,r-x,g-b;c-d,q,esr, g,rp;l-d,q,esr,g,rp;偏差和%偏差 測量電路模式:串聯(lián)和并聯(lián) 量程轉(zhuǎn)換:自動和手動 觸發(fā):內(nèi)部、外部、手動和總線(HP-ib) 延遲時間:~.s,以ms步進(jìn) 測量終端:四端對 測試電纜長度: HPa:標(biāo)準(zhǔn):和m;帶選件時:、、和m 積分時間:短、中等和長 取平均:~,可程控 測試信號 HP a:hz~mhz±.%,個可選擇頻率 測試信號方式 標(biāo)準(zhǔn):分別在開路或短路的測量端,而不是在被測件上對選定的 電壓或電流編程 恒定:維持被測件上選定的電壓或電流,而與器件阻抗和變化無關(guān).