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公司基本資料信息
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詳細(xì)說明
| 用途： 機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。 |
| 平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做 |
| 平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn) *平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來 測量被測量面的平面度。 *平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定 高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于 計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 |
更多>本企業(yè)其它產(chǎn)品
